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基于光学显微的一点应变测量方法

发布时间：2023-11-28| 点击次数：

学校署名：第一单位

发明设计人：代万里,吴培楠,王红英,韩贵雷,蒋斌松

专利类型：国内

专利状态：专利授权

申请号：202310167033.4

是否职务专利：否

申请日期：2023-02-27

授权日期：2023-10-03

第一作者：张强

下一条：
基于恒定法向中心约束的低摩阻剪切试验装置及试验方法

版权所有：中国矿业大学  

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