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一种单线分布式多点位移计装置及测试方法

发布时间:2023-11-28| 点击次数:

学校署名:第一单位

发明设计人:吴培楠,吴晓锁,尹乾,吴疆宇,蒋斌松

专利类型:国内

专利状态:专利授权

申请号:202310161798.7

是否职务专利:否

申请日期:2023-02-24

授权日期:2023-07-21

第一作者:张强