一种测量薄涂层厚度及其结合强度的方法

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所属单位:材料与物理学院

发明设计人:杨婷,刘秋真,刘星星

专利类型:国内

专利状态:专利授权

申请号:201510133899.9

发明人数:4

是否职务专利:

申请日期:2015-03-25

授权日期:2017-05-17

第一作者:罗勇